Introducción a la gestión metrológica /

El nuevo mileno presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al sofware, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidade...

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Bibliographic Details
Main Author: Cedeño Tamayo, Orlando
Format: Book
Language: Spanish
Subjects:
Description
Summary:El nuevo mileno presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al sofware, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es como hablar de unidades de almacenamiento de Terabytes...(Tomado de la fuente)
Item Description:Indexada en: Revistas Científicas Electrónicas Españolas y Latinoamericanas e-revistas, Organización de Estados Iberoamericanos-OEI, Dialnet, Informe Académico, Red Colombiana de Revistas de Ingeniería-RCRI, Red Latinoamericana de Revistas Científicas-Redalyc, Base Bibliográfica Nacional(BBN-Publindex) y Bibliotecas de Depósito Legal
Physical Description:6 páginas : ilustraciones.
Bibliography:Incluye referencias bibliográicas y título paralelo en inglés