Introducción a la gestión metrológica /

El nuevo mileno presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al sofware, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidade...

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Bibliographic Details
Main Author: Cedeño Tamayo, Orlando
Format: Book
Language: Spanish
Subjects:

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 000055912
003 CO-BoSNA
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040 |a CO-BoSNA  |b spa 
100 1 |a Cedeño Tamayo, Orlando 
245 1 0 |a Introducción a la gestión metrológica /  |c Orlando Cedeño Tamayo. 
300 |a 6 páginas :  |b ilustraciones. 
500 |a Indexada en: Revistas Científicas Electrónicas Españolas y Latinoamericanas e-revistas, Organización de Estados Iberoamericanos-OEI, Dialnet, Informe Académico, Red Colombiana de Revistas de Ingeniería-RCRI, Red Latinoamericana de Revistas Científicas-Redalyc, Base Bibliográfica Nacional(BBN-Publindex) y Bibliotecas de Depósito Legal 
504 |a Incluye referencias bibliográicas y título paralelo en inglés 
520 |a El nuevo mileno presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al sofware, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es como hablar de unidades de almacenamiento de Terabytes...(Tomado de la fuente) 
546 |a Texto en español, resumen en español e inglés 
650 1 7 |a Metrología  |b SENA 
650 2 7 |a Desarrollo científico y tecnológico  |2 Armarc 
773 |a ANA  |b 000045896 75  |k 47-52  |l SEN01  |m Introducción a la gestión metrológica  |n Informador técnico  |y 2011 
999 |c 51909  |d 51909