Procedimientos de muestreo para inspección por atributos : parte 1: planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote /
Part. 0.Introduction to the ISO 2859: introducción al sistema de muestreo por atributos attribute sampling system
Part. 1. Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote
Part.2. Planes de muestreo determinados por la calidad límite (CL) para la inspección de un lote aislado Sampling plans indixed by limiting qualilty (LQ) for isolated lot inspection
Part. 3. procedimientos de muestreo intermitentes : Sampling procedures for inspection by atributes