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Procedimientos de muestreo para inspección por atributos : parte 1: planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote /

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Bibliographic Details
Corporate Author: Instituto Colombiano de Normas Técnicas y Certificación (ICONTEC)
Format: Book
Language: Spanish
Published: Bogotá : ICONTEC, c2009.
Subjects:
Muestreo de aceptación (Control de calidad) > Normas técnicas > Colombia
Muestreo (estadística) > Normas técnicas > Colombia
Notas Contenido:
  • Part. 0.Introduction to the ISO 2859: introducción al sistema de muestreo por atributos attribute sampling system
  • Part. 1. Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote
  • Part.2. Planes de muestreo determinados por la calidad límite (CL) para la inspección de un lote aislado Sampling plans indixed by limiting qualilty (LQ) for isolated lot inspection
  • Part. 3. procedimientos de muestreo intermitentes : Sampling procedures for inspection by atributes
Table of Contents:
  • Part. 0.Introduction to the ISO 2859: introducción al sistema de muestreo por atributos attribute sampling system
  • Part. 1. Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote
  • Part.2. Planes de muestreo determinados por la calidad límite (CL) para la inspección de un lote aislado Sampling plans indixed by limiting qualilty (LQ) for isolated lot inspection
  • Part. 3. procedimientos de muestreo intermitentes : Sampling procedures for inspection by atributes

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