Procedimientos de muestreo para inspección por atributos : parte 1: planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote /
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| Corporate Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Bogotá :
ICONTEC,
c2009.
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| Subjects: | |
| Notas Contenido: |
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