Metrología : aseguramiento metrológico industrial : Tomo II /

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Bibliographic Details
Main Author: Restrepo Díaz, Jairo Andrés
Format: Book
Language: Spanish
Published: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2008.
Subjects:
Notas Contenido:
  • Metrología aplicada
  • Laboratorio de metrología
  • Metrología dimensional
  • Presión
  • Masas y balanzas
  • Fuerza
Description
Physical Description:162 páginas : ilustraciones ; 23 cm.
Bibliography:Contiene bibliografía
ISBN:9789588351445