Procedimientos de muestreo para inspección por atributos Parte 5 Sistema de planes de muestreo secuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote /

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Bibliographic Details
Corporate Author:	Instituto Colombiano de Normas Técnicas y Certificación (ICONTEC)
Format:	Book
Language:	Spanish
Published:	Bogotá : Icontec, 2012.
Subjects:	Control de calidad > Normas técnicas Muestreo de aceptación (Control de calidad) > Normas técnicas Inspección (Ingeniería industrial) > Normas técnicas
Notas Contenido:	Expresión de la no conformidad Nivel aceptable de calidad (NAC) Presentación de productos para muestreo Formación y presentación de lotes Aceptación y no aceptación Aceptabilidad de los notes Disposición de los lotes no aceptables Elementos no conformes Toma de muestras Inspección normal, estricta y reducida Reglas y procedimientos de cambio Planes de muestreo Determinación de la aceptabilidad Curvas características de operación Promedio del proceso Uso de planes individuales Planes de muestreo para: inspección normal, estricta y reducida Números de muestra promedio para planes de muestreo secuencial.

Description
Item Description:	Esta norma es adopción idéntica por traducción (IDT) a la ISO 2859-5:2005
Physical Description:	47 páginas : ; 30 cm. Versión electrónica disponible en línea a través de la base de datos Icontec
Bibliography:	Incluye referencias bibliográficas

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