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Procedimientos de muestreo para inspección por atributos Parte 5 Sistema de planes de muestreo secuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote /

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Bibliographic Details
Corporate Author: Instituto Colombiano de Normas Técnicas y Certificación (ICONTEC)
Format: Book
Language: Spanish
Published: Bogotá : Icontec, 2012.
Subjects:
Control de calidad > Normas técnicas
Muestreo de aceptación (Control de calidad) > Normas técnicas
Inspección (Ingeniería industrial) > Normas técnicas
Notas Contenido:
  • Expresión de la no conformidad
  • Nivel aceptable de calidad (NAC)
  • Presentación de productos para muestreo
  • Formación y presentación de lotes
  • Aceptación y no aceptación
  • Aceptabilidad de los notes
  • Disposición de los lotes no aceptables
  • Elementos no conformes
  • Toma de muestras
  • Inspección normal, estricta y reducida
  • Reglas y procedimientos de cambio
  • Planes de muestreo
  • Determinación de la aceptabilidad
  • Curvas características de operación
  • Promedio del proceso
  • Uso de planes individuales
  • Planes de muestreo para: inspección normal, estricta y reducida
  • Números de muestra promedio para planes de muestreo secuencial.
Table of Contents:
  • Expresión de la no conformidad
  • Nivel aceptable de calidad (NAC)
  • Presentación de productos para muestreo
  • Formación y presentación de lotes
  • Aceptación y no aceptación
  • Aceptabilidad de los notes
  • Disposición de los lotes no aceptables
  • Elementos no conformes
  • Toma de muestras
  • Inspección normal, estricta y reducida
  • Reglas y procedimientos de cambio
  • Planes de muestreo
  • Determinación de la aceptabilidad
  • Curvas características de operación
  • Promedio del proceso
  • Uso de planes individuales
  • Planes de muestreo para: inspección normal, estricta y reducida
  • Números de muestra promedio para planes de muestreo secuencial.

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