Procedimientos de muestreo para inspección por atributos Parte 5 Sistema de planes de muestreo secuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote /
Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author:
Instituto Colombiano de Normas Técnicas y Certificación (ICONTEC)
Format:
Book
Language:
Spanish
Published:
Bogotá :
Icontec,
2012.
Subjects:
Notas Contenido:
Expresión de la no conformidad
Nivel aceptable de calidad (NAC)
Presentación de productos para muestreo
Formación y presentación de lotes
Aceptación y no aceptación
Aceptabilidad de los notes
Disposición de los lotes no aceptables
Elementos no conformes
Toma de muestras
Inspección normal, estricta y reducida
Reglas y procedimientos de cambio
Planes de muestreo
Determinación de la aceptabilidad
Curvas características de operación
Promedio del proceso
Uso de planes individuales
Planes de muestreo para: inspección normal, estricta y reducida
Números de muestra promedio para planes de muestreo secuencial.
