Medición de dispositivos semiconductores /

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Bibliographic Details
Main Author: Gillich, Helmut
Other Authors: Mitchell, Patricio (traductor)
Format: Book
Language: Spanish
Published: Buenos Aires : Editorial Kapelusz, 1971.
Subjects:
Notas Contenido:
  • Fuentes de alimentación de baja tensión
  • Dipolo de corriente constante
  • Mediciones de corriente y tensión
  • Pruebas de diodos de germanio y de silicio
  • Característica tensión-corriente de un diodo
  • Característica de un diodo de zener
  • Circuito de prueba para diodos de zener
  • Prueba de diodos capacitivos
  • Características de tensión y corriente de un diodo túnel
  • Circuito de prueba para diodo túnel
  • Característica de tensión y corriente de un diodo de cuatro capas
  • Circuito de prueba para rectificadores de silicio
  • Prueba de diodos con osciloscopio
  • Calibración de probador de diodos con osciloscopio
  • Prueba de tiristores
  • Circuito de prueba para tiristores
  • Determinación de algunos parámetros del tiristor
  • Observación oscilográfica de la característica de disparo de un tiristor
  • Identificación de los terminales de un transistor
  • Prueba completa con óhmetro
  • Relevamiento de las características de un transistor
  • Prueba de transistores con osciloscopio
  • Principio de funcionamiento del probador de transistores
  • Prueba de un transistor con óhmetro
  • Sensibilidad de los transistores a la luz y a la temperatura
  • Característica del transistor de unijuntura
  • Circuito de prueba para transistores de unijuntura
  • Resistores de coeficiente de temperatura positivo
  • Característica de tensión-corriente de los resistores PTC
  • Resistor de hierro-hidrógeno
  • Resistores de coeficiente negativo (NTC)
  • Características tensión - corriente de un NTC-- Resistores de resistencia dependiente de la tensión (VDR)
  • Propiedades de las celdas fotoeléctricas, fotodiodos, fotorresistores
  • Componentes magnéticos
  • Prueba de magnetorresistores
  • Mediciones sobre un generador de hall
  • Propiedades de los pares térmicos
  • Probador de semiconductores.
Description
Item Description:Incluye índice temático
Physical Description:86 páginas : ilustraciones ; 15 cm.