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| LEADER |
00000nam a2200000 a 4500 |
| 001 |
000075905 |
| 003 |
CO-BoSNA |
| 005 |
20260109082832.0 |
| 008 |
151006s1971^^^^ag^a^^^fr^^^^^001^0^spa^d |
| 040 |
|
|
|a CO-BoSNA
|
| 041 |
0 |
|
|a spa
|
| 082 |
0 |
4 |
|a 621.38152
|b G481m
|2 23
|
| 100 |
1 |
|
|a Gillich, Helmut
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Medición de dispositivos semiconductores /
|c Helmut Gillich ; traducción de Patricio Mitchell.
|
| 260 |
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|a Buenos Aires :
|b Editorial Kapelusz,
|c 1971.
|
| 300 |
|
|
|a 86 páginas :
|b ilustraciones ;
|c 15 cm.
|
| 500 |
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|
|a Incluye índice temático
|
| 505 |
0 |
|
|a Fuentes de alimentación de baja tensión -- Dipolo de corriente constante -- Mediciones de corriente y tensión -- Pruebas de diodos de germanio y de silicio -- Característica tensión-corriente de un diodo -- Característica de un diodo de zener -- Circuito de prueba para diodos de zener -- Prueba de diodos capacitivos --Características de tensión y corriente de un diodo túnel -- Circuito de prueba para diodo túnel -- Característica de tensión y corriente de un diodo de cuatro capas -- Circuito de prueba para rectificadores de silicio -- Prueba de diodos con osciloscopio -- Calibración de probador de diodos con osciloscopio -- Prueba de tiristores -- Circuito de prueba para tiristores -- Determinación de algunos parámetros del tiristor -- Observación oscilográfica de la característica de disparo de un tiristor -- Identificación de los terminales de un transistor -- Prueba completa con óhmetro -- Relevamiento de las características de un transistor -- Prueba de transistores con osciloscopio -- Principio de funcionamiento del probador de transistores -- Prueba de un transistor con óhmetro -- Sensibilidad de los transistores a la luz y a la temperatura -- Característica del transistor de unijuntura -- Circuito de prueba para transistores de unijuntura -- Resistores de coeficiente de temperatura positivo -- Característica de tensión-corriente de los resistores PTC -- Resistor de hierro-hidrógeno -- Resistores de coeficiente negativo (NTC) -- Características tensión - corriente de un NTC-- Resistores de resistencia dependiente de la tensión (VDR) -- Propiedades de las celdas fotoeléctricas, fotodiodos, fotorresistores -- Componentes magnéticos -- Prueba de magnetorresistores -- Mediciones sobre un generador de hall -- Propiedades de los pares térmicos -- Probador de semiconductores.
|
| 534 |
|
|
|t Messungen An Halbleitern
|
| 546 |
|
|
|a Texto en español
|
| 653 |
1 |
0 |
|a Semiconductores
|
| 700 |
1 |
|
|a Mitchell, Patricio
|e traductor
|
| 952 |
|
|
|0 0
|1 0
|4 4
|6 621_381520000000000_G481M
|7 0
|8 GENER
|9 393090
|a 54537
|b 54537
|d 2015-10-06
|l 0
|o 621.38152 G481m
|p 549537005404
|r 2026-01-09 08:28:32
|t Ej. 1
|w 2026-01-09
|y BOOK
|z Calle 2 N Avenid 5 Esquina/CIES
|
| 999 |
|
|
|c 79891
|d 79891
|
| 942 |
|
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|6 621_381520000000000__G481M
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