Cover Image

Medición de dispositivos semiconductores /

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Gillich, Helmut
Other Authors:	Mitchell, Patricio (traductor)
Format:	Book
Language:	Spanish
Published:	Buenos Aires : Editorial Kapelusz, 1971.
Subjects:	Semiconductores
Notas Contenido:	Fuentes de alimentación de baja tensión Dipolo de corriente constante Mediciones de corriente y tensión Pruebas de diodos de germanio y de silicio Característica tensión-corriente de un diodo Característica de un diodo de zener Circuito de prueba para diodos de zener Prueba de diodos capacitivos Características de tensión y corriente de un diodo túnel Circuito de prueba para diodo túnel Característica de tensión y corriente de un diodo de cuatro capas Circuito de prueba para rectificadores de silicio Prueba de diodos con osciloscopio Calibración de probador de diodos con osciloscopio Prueba de tiristores Circuito de prueba para tiristores Determinación de algunos parámetros del tiristor Observación oscilográfica de la característica de disparo de un tiristor Identificación de los terminales de un transistor Prueba completa con óhmetro Relevamiento de las características de un transistor Prueba de transistores con osciloscopio Principio de funcionamiento del probador de transistores Prueba de un transistor con óhmetro Sensibilidad de los transistores a la luz y a la temperatura Característica del transistor de unijuntura Circuito de prueba para transistores de unijuntura Resistores de coeficiente de temperatura positivo Característica de tensión-corriente de los resistores PTC Resistor de hierro-hidrógeno Resistores de coeficiente negativo (NTC) Características tensión - corriente de un NTC-- Resistores de resistencia dependiente de la tensión (VDR) Propiedades de las celdas fotoeléctricas, fotodiodos, fotorresistores Componentes magnéticos Prueba de magnetorresistores Mediciones sobre un generador de hall Propiedades de los pares térmicos Probador de semiconductores.

Ver en catálogo Koha