Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo sucuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote.
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| Format: | Book |
| Language: | Undetermined |
| Subjects: | |
| Online Access: |
https://ecollection.icontec.org/colacc.aspx?Q=4A5495A18C9FA17194F13CCACBF02A1D |
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