STEM-EELS study of beam damage in polymers and extra-terrestrial organic matter using direct electron detectors.

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Title: STEM-EELS study of beam damage in polymers and extra-terrestrial organic matter using direct electron detectors.
Authors: Laforet S; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France. Electronic address: sylvain.laforet@univ-lille.fr., Guillou CL; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France., Teurtrie A; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France., Marinova M; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, Université Artois, FR 2638-IMEC-Institut Michel-Eugène Chevreul, F-59000 Lille, France., de la Peña F; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France., Blanchenet AM; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France., Bernard S; Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC), MNHN, CNRS, IRD, Sorbonne Université, Paris, France., Leroux H; Université de Lille, CNRS, INRAE, Centrale Lille, UMR 8207-UMET-Unité Matériaux et Transformations, F-59000 Lille, France.
Source: Ultramicroscopy [Ultramicroscopy] 2026 Apr; Vol. 282, pp. 114309. Date of Electronic Publication: 2026 Jan 03.
Publication Type: Journal Article
Journal Info: Publisher: Elsevier Country of Publication: Netherlands NLM ID: 7513702 Publication Model: Print-Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1879-2723 (Electronic) Linking ISSN: 03043991 NLM ISO Abbreviation: Ultramicroscopy Subsets: MEDLINE; PubMed not MEDLINE
Database: MEDLINE Ultimate
Description
ISSN:1879-2723
DOI:10.1016/j.ultramic.2026.114309